本發(fā)明涉及精密光學(xué)設(shè)計(jì),提出了一種基于雙模式光線追跡的復(fù)合評(píng)價(jià)函數(shù)雜散光優(yōu)化方法。、在光學(xué)系統(tǒng)工作時(shí),除了由光源發(fā)出經(jīng)正常光路到達(dá)像面的光線外,還會(huì)由于光學(xué)元件的散射、反射而產(chǎn)生雜散光,這些雜散光將會(huì)引發(fā)噪聲、降低光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量。因此,抑制雜散光是精密光學(xué)設(shè)計(jì)的重要內(nèi)容。、我們可以通過(guò)...